그동안 반도체 공정평가 기준으로 쓰였던 나노미터(nm) 단위 공정 미세도에 대해 '다른 기준이 필요하다'는 업계의 목소리가 끊이지 않고 있다.

트랜지스터 길이를 기준으로 한 공정 명칭은 2차원 평면 트랜지스터에서는 유효했다. 

그러나 2010년 이후 3차원 핀펫(FinFET) 트랜지스터가 등장하며 공정 앞에 붙은 숫자와 실제 트랜지스터 길이가 일치하지 않는 현상이 발생하기 시작한 것이다.

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